Wikisage is op 1 na de grootste internet-encyclopedie in het Nederlands. Iedereen kan de hier verzamelde kennis gratis gebruiken, zonder storende advertenties. De Koninklijke Bibliotheek van Nederland heeft Wikisage in 2018 aangemerkt als digitaal erfgoed.
- Wilt u meehelpen om Wikisage te laten groeien? Maak dan een account aan. U bent van harte welkom. Zie: Portaal:Gebruikers.
- Bent u blij met Wikisage, of wilt u juist meer? Dan stellen we een bescheiden donatie om de kosten te bestrijden zeer op prijs. Zie: Portaal:Donaties.
Positive Material Identification
Positive Material Identification (PMI) (Nederlands: Positieve materiaalidentificatie) is de analyse van een metaallegering om de samenstelling vast te stellen door de hoeveelheden te lezen op basis van het percentage van de samenstellende elementen. Typische methoden voor PMI omvatten röntgenfluorescentie (XRF) en optische emissiespectrometrie (OES).
Werking
In het testapparaat worden door middel van een ingebouwde röntgenbuis (40kV-45kV) de atomen van het te analyseren werkstuk geëxciteerd. In een geëxciteerd atoom zal een herschikking van de elektronen plaats vinden. Deze herschikking gaat gepaard met het uitzenden van energie in de vorm van fotonen. Deze herschikking zijn karakteristiek voor het geëxciteerde atoom. De detector kan deze fotonen onderscheiden en op basis hiervan de aanwezige atomen kwantificeren. Nochtans is het met deze analysemethode niet mogelijk om alle elementen en in het bijzonder koolstof te doseren. Als koolstof een belangrijk element is, zal er onderzocht moeten worden met een Optical Emission Spectrometer (OES).
Lichte elementen, zoals bijvoorbeeld aluminium en silicium, zijn tegenwoordig te meten met de nieuwe PMI sets, hiervoor moet wel de geschikte software zijn geïnstalleerd. Let wel op dat de meettijd voor een goede analyse hierdoor toeneemt. Zware elementen hebben een aanstralingstijd nodig van min. 10 seconden, lichte elementen hebben daarentegen min. 30 seconden nodig. Door het beperkte vermogen van het PMI set komt de straling niet dieper dan het oppervlakte. Daardoor geldt, voor een goede meting moet het oppervlakte schoon zijn. Dit kan door middel van een juiste (RVS, CST) nieuwe flapperdisk te gebruiken. Het toestel dient direct contact te maken met het materiaal, om een zo goed mogelijke meting te geven. Hierdoor is de maximale temperatuur van het oppervlakte van het te meten onderdeel, dan ook maximaal 50 graden Celsius.
